晶圓缺陷光學(xué)檢測設(shè)備-寧波舜宇儀器有限公司

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AWL系列半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測/國產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)

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更新日期：2024-12-31

型號：AWL系列

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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晶圓缺陷光學(xué)檢測設(shè)備

晶圓缺陷光學(xué)檢測設(shè)備是由高精度光學(xué)檢測顯微鏡搭載全自動晶圓搬運(yùn)系統(tǒng)組成，支持4-12寸的晶圓尺寸，可輕松實現(xiàn)多角度、全視野的宏觀檢查、以及晶圓微觀細(xì)節(jié)的高清捕捉，可對半導(dǎo)體過程工藝中的關(guān)鍵參數(shù)、缺陷問題進(jìn)行有效監(jiān)控，是晶圓來料檢測和工藝控制流程缺陷分析的高效利器。

更新日期：2025-01-13

型號：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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